Sottostrat ta' rkupru finta ta' wejfer tas-silikon ta' 8 pulzieri tat-tip P/N (100) 1-100Ω

Wejfer tas-silikon ta' 8 pulzieri tat-tip P/N (100) 1-100Ω substrat ta' rkupru finta Immaġni Dehru

Deskrizzjoni Qasira:

Inventarju kbir ta' wejfers illustrati b'żewġ naħat, il-wejfers kollha minn 50 sa 400mm fid-dijametru Jekk l-ispeċifikazzjoni tiegħek mhix disponibbli fl-inventarju tagħna, stabbilixxejna relazzjonijiet fit-tul ma' ħafna fornituri li jistgħu jimmanifatturaw wejfers apposta biex jaqblu ma' kwalunkwe speċifikazzjoni unika. Wejfers illustrati b'żewġ naħat jistgħu jintużaw għas-silikon, il-ħġieġ u materjali oħra komunement użati fl-industrija tas-semikondutturi.

Ibgħatilna email

Karatteristiċi

Introduzzjoni tal-kaxxa tal-wejfer

Il-wejfer tas-silikon ta' 8 pulzieri huwa materjal ta' sottostrat tas-silikon użat komunement u jintuża ħafna fil-proċess tal-manifattura ta' ċirkwiti integrati. Dawn il-wejfers tas-silikon huma komunement użati biex jagħmlu diversi tipi ta' ċirkwiti integrati, inklużi mikroproċessuri, ċipep tal-memorja, sensuri u apparati elettroniċi oħra. Il-wejfers tas-silikon ta' 8 pulzieri huma komunement użati biex jagħmlu ċipep ta' daqsijiet relattivament kbar, b'vantaġġi li jinkludu erja tal-wiċċ akbar u l-abbiltà li jsiru aktar ċipep fuq wejfer tas-silikon wieħed, li jwassal għal żieda fl-effiċjenza tal-produzzjoni. Il-wejfer tas-silikon ta' 8 pulzieri għandu wkoll proprjetajiet mekkaniċi u kimiċi tajbin, li huwa adattat għall-produzzjoni ta' ċirkwiti integrati fuq skala kbira.

Karatteristiċi tal-prodott

Wejfer tas-silikon illustrat tat-tip P/N ta' 8" (25 biċċa)

Orjentazzjoni: 200

Reżistività: 0.1 - 40 ohm•cm (Tista' tvarja minn lott għal lott)

Ħxuna: 725+/-20um

Grad Prim/Monitor/Test

PROPRJETAJIET MATERJALI

Parametru	Karatteristika
Tip/Dopant	P, Boron N, Fosfru N, Antimonju N, Arseniku
Orjentazzjonijiet	<100>, <111> orjentazzjonijiet ta' qtugħ skont l-ispeċifikazzjonijiet tal-klijent
Kontenut ta' Ossiġnu	10^{19-il sena}Tolleranzi ppmA skont l-ispeċifikazzjoni tal-klijent
Kontenut tal-Karbonju	< 0.6 ppmA

PROPRJETAJIET MEKKANIĊI

Parametru	Prim	Monitor/Test A	Test
Dijametru	200±0.2mm	200 ± 0.2mm	200 ± 0.5 mm
Ħxuna	725±20µm (standard)	725±25µm (standard) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Pruwa	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kebbeb	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
It-Tarf tat-Tarf	SEMI-STD
Immarkar	Primarja SEMI-Ċatta biss, SEMI-STD Ċatti Jeida Ċatta, Notch

Parametru	Prim	Monitor/Test A	Test
Kriterji tan-Naħa ta' Quddiem
Kundizzjoni tal-wiċċ	Kimiku Mekkaniku Illustrat	Kimiku Mekkaniku Illustrat	Kimiku Mekkaniku Illustrat
Ħruxija tal-wiċċ	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Kontaminazzjoni Partiċelli @ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
Ċpar, Ħofor Qoxra tal-larinġ	Xejn	Xejn	Xejn
Serrieq, Marki Strijazzjonijiet	Xejn	Xejn	Xejn
Kriterji tan-Naħa ta' Wara
Xquq, saqajn tal-għerq, marki tas-serrieq, tbajja’	Xejn	Xejn	Xejn
Kundizzjoni tal-wiċċ	Kawstika mnaqqxa